| HS Directory Tree | Description |
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Chapter 90; Optical, photographic, cinematographic, measuring, checking, precision, medical or surgical instruments and apparatus; parts and accessories thereof |
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Oscilloscopes, spectrum analysers and otherinstruments and apparatus for measuring orchecking electrical quantities, excluding meters ofheading No. 90. 28; instruments and apparatus formeasuring or detecting alpha, beta, gamma, X-ray,cosmic or other |
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Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices; 检测半导体晶片或器件的仪器; |
| 13-digits CIQ code | Commodity Name |
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9030820000999 |
检测半导体晶片或器件的仪器(包括测试或检验半导体晶片或元器件用的装置) |
| 8-digits HS code | Commodity Example of Chinese Name | Specification |
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90308200. |
芯片自动测试仪 | DS-168 |
90308200. |
芯片测试机 | 320MX(品牌:SPEA) |
90308200. |
无独立使用功能的半导体测试机 | 半导体测试机备件DS-610T |
90308200. |
三极管电性能检测仪 | TST-9600B |
90308200. |
全自动模块检测机 | SINO CARD牌 MTM-100型 |
90308200. |
内存条测试机(品牌:M&T) | PVL-D/P5B 测试内存条通路,判断 |
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晶体中间频率测试仪 | 型号KS300 KOLINKER牌 |
90308200. |
晶体频率测试仪 | 型号KS360 KOLINKER牌 |
90308200. |
晶体频率测试仪 | 型号KH8210 KOLINKER牌 |
90308200. |
晶体检测仪 | NP3112816 |
90308200. |
晶片电阻检测仪(带记录装置) | AX-1155B |
90308200. |
晶粒特性检测仪(旧) | 370,371A 1993年产 |
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集成电路检测仪(品牌:AMD) | 用于检测CPU记存器是否有数据 |
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集成电路检测仪(测试仪用) NEC牌 | PG-FP4-E (无配置无分选功能) |
90308200. |
集成电路检测仪(测试仪用) | RENESAS牌 R0K33026AS000BE |
90308200. |
集成电路检测仪(测试仪用) | RENESAS牌 HS0005KCU01H |
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集成电路检测仪(测试仪用) | Magnachip牌 SESO0700134 |
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硅片自动分选机(旧) | Roba 1502Ls 1999年产 |
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硅片杂质浓度检测仪(旧) | SSM490i 1994年产 |
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硅片微粒子检测仪(旧) | SFS6200 1995年产 |
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硅片外延状态检测仪(旧) | QS-300 1991年产 |
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硅片平面特性检测仪(旧) | S-8820 1996年产 |
90308200. |
硅片离子注入状态检测仪(旧) | TP420 1995年产 |
90308200. |
硅片金属膜厚度检测仪(旧) | MG-300 1994年产 |
90308200. |
硅片厚度检测仪(旧) | NANOSPEC 1995年产 |
90308200. |
硅片工艺特征检测仪(旧) | HP4145B 1993年产 |
90308200. |
硅片断面特性检测仪(旧) | S-4300 2001年产 |
90308200. |
硅片电阻率检测仪(旧) | RS55TC 1993年产 |
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分立元件测试器(用于测量晶体管 | 有显示结果,显示电阻值,测试范围 |
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二极管测试机 | JL-16 |
90308200. |
测试仪 用于检测半导体晶片的信 | 号功能 STM牌 STX-RLINK |
90308200. |
测试仪 用于检测半导体晶片的信 | 号功能 STM牌 ST7FLIT2-IND/USB |
90308200. |
测试机(测试LED半导体,电气性能) | TH-8000 |
90308200. |
测试机 | 测试或检验半导体晶片或器件用 |
90308200. |
半导体晶体测试仪 | 型号:KG200 KOLINKER牌 |
90308200. |
半导体晶片测试仪 | OMICRON CPC100 |
90308200. |
半导体检测仪,品牌ASM. | 用于检测贴片机贴装晶体元器件的 |
90308200. |
半导体检测器 | uni580/spider01 |
90308200. |
半导体测试治具/NVIDIA牌 | 600-50358-0500-100 |
90308200. |
半导体测试治具/NVIDIA牌 | 600-10551-0001-000 |
90308200. |
半导体测试机 | GPC-A351 |
90308200. |
I.C测试器(用于测试I.C是否故障, | 显示是否故障,适用于最多 40 个 |



















